華測儀器 封裝材料塞貝克系數(shù)電阻測定儀的產(chǎn)品參數(shù)及特點(diǎn)

產(chǎn)品簡介
半導(dǎo)體塞貝克系數(shù)電阻測試儀由華測儀器生產(chǎn),是一款簡單易用的材料表征儀器，可以同時(shí)測定樣品在RT至1500℃溫度范圍內(nèi)的塞貝克系數(shù)和電阻率，該產(chǎn)品具有寬溫區(qū)覆蓋、高適應(yīng)性和多功能集成等特點(diǎn)，主要服務(wù)于熱電材料研發(fā)、新能源器件測試及半導(dǎo)體性能分析等領(lǐng)域。
產(chǎn)品參數(shù)
01.溫度范圍:RT~800/1100/1500℃
02.測量原理：塞貝克系數(shù):靜態(tài)直流法;電阻率:四端法
03.氣氛:惰性、氧化、還原、真空
04.樣品支架:三明治結(jié)構(gòu)夾與兩電極之間
05.樣品尺寸(園柱形或棱柱形):2至5mm(面寬)，23mm，中6mm，23mm
06.樣品尺寸(園盤狀):10、12.7、25.4 mm
07.可調(diào)探頭距離:4、6、8mm
08.塞貝克系數(shù)測量范圍:1~ 2500uV/K準(zhǔn)確度±7%;重復(fù)性±3%
09.電導(dǎo)率測量范圍:0.01~2*10^5s/cm準(zhǔn)確度±5-8%;再現(xiàn)性±3%
10.電源:0~ 1A，具長期穩(wěn)定性
11.電極材料:鎳(-100至500“C)/鉑(-100至+1500°C)
12.熱電偶:K/S/C型
產(chǎn)品特點(diǎn)
01.文本編輯
02.重復(fù)測量可少的輸入?yún)?shù)
03.實(shí)時(shí)測量分析
04.測量曲線比較:多達(dá)32條曲線
05.曲線扣除
06.曲線放大縮小
07.一階/二階求導(dǎo)
08.多重峰分析
09.樣品溫度多點(diǎn)校正
10.多種方法分析(DSCTG、TMA、DIL等)
11.焓變多點(diǎn)校正
12.熱流Cp測量
13.評(píng)估結(jié)果保存及導(dǎo)出
14.ASCII數(shù)據(jù)導(dǎo)入與導(dǎo)出
15.數(shù)據(jù)生成到MS Excel
16.信號(hào)控制測量測序